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LTC4222
5
4222fb
ELECTRICAL CHARACTERISTICS
 
The l denotes the specifications which apply over the full operating
temperature range, otherwise specifications are at T
A
 = 25癈. V
DD
 = 12V unless otherwise noted.
SYMBOL
PARAMETER
CONDITIONS
MIN
TYP
MAX    UNITS
I
2
C Interface
V
ADR(H)
ADR0, ADR1, ADR2 Input High Voltage
l    INTV
CC
 
 0.8
INTV
CC
 
 0.4
INTV
CC
 
 0.2
V
I
ADR(IN,Z)
ADR0, ADR1, ADR2 Hi-Z Input Current
ADR0, ADR1, ADR2 = 0.8V ,
INTV
CC
  0.8V
l
5
0
5
礎
V
ADR(L)
ADR0, ADR1, ADR2 Input Low Voltage
l
0.2
0.4
0.8
V
I
ADR(IN)
ADR0, ADR1, ADR2 Input Current
ADR0, ADR1, ADR2 = 0V , INTV
CC
l
80
80
礎
V
ALERT(OL)
ALERT Output Low Voltage
I
ALERT
 = 3mA
l
0.2
0.4
V
I
ALERT(OH)
ALERT Input Current
ALERT = INTV
CC
l
?
礎
V
SDA,SCL(TH)
SDA, SCL Input Threshold
l
1.5
1.7
1.9
V
I
SDA,SCL(OH)
SDA, SCL Input Current
SCL, SDA = INTV
CC
l
?
礎
V
SDA(OL)
SDA Output Low Voltage
I
SDA
 = 3mA
l
0.2
0.4
V
I
2
C Interface Timing
f
SCL(MAX)
SCL Clock Frequency
Operates with f
SCL
 d f
SCL(MAX)
400
1000
kHz
t
BUF(MIN)
Bus Free Time Between Stop/Start Condition
0.12
1.3
祍
t
HD,STA(MIN)
Hold Time After (Repeated) Start Condition
100
600
ns
t
SU,STA(MIN)
Repeated Start Condition Set-Up Time
30
600
ns
t
SU,STO(MIN)
Stop Condition Set-Up Time
140
600
ns
t
HD,DAT(MIN)
Data Hold Time (Input)
30
100
ns
t
HD,DATO
Data Hold Time (Output)
300
600
900
ns
t
SU,DAT(MIN)
Data Set-Up Time
30
600
ns
t
SP
Suppressed Spike Pulse Width
50
110
250
ns
t
RST
Stuck-Bus Reset Time
SCL or SDA Held Low
25
32
40
ms
C
X
SCL, SDA Input Capacitance
SDAI Tied to SDAO (Note 5)
10
pF
Note 1: Stresses beyond those listed under Absolute Maximum Ratings 
may cause permanent damage to the device. Exposure to any Absolute
Maximum Rating condition for extended periods may affect device
reliability and lifetime.
Note 2: All currents into pins are positive, all voltages are referenced to 
GND unless otherwise specified.
Note 3: An internal clamp limits the GATE pin to a minimum of 5V above 
SOURCE. Driving this pin to voltages beyond the clamp may damage the
device.
Note 4: Integral Nonlinearity is defned as the deviation of a code from a 
precise analog input voltage. Maximum specifications are limited by the
LSB step size and the single shot measurement. Typical specifications are
measured from 1/4, 1/2, 3/4 areas of the quantization band.
Note 5: Guaranteed by design and not subject to test.
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